Aberlink Korea 애버링크 코리아
Project X
고급 현장용 비전 시스템

프로젝트 X 는 다릅니다. 완전히 새로운 특허 XY 스케일 기술을 사용하며, 이는 X 와 Y 위치 뿐만 아니라 또한 카메라 시스템의 모든 회전 이동을 기록해 줍니다. 또한, 완전 스케일 시스템이기 때문에 장비를 켜자마자 장비는 현재 위치를 정확히 알고 있습니다 - 레퍼런싱이 필요하지 않습니다. 카메라는 정밀도 손실을 피하기 위해 기계 장치를 제약할 염려 없이, 단순 에어 베어링 시스템 상에 장착된 측정 범위 주변을 미끄러지듯이 자유롭게 이동 가능합니다.

상기 측정을 하면서 카메라가 움직일 때 부품은 유리 테이블 위에 놓고 정지 상태를 유지할 수있습니다. 움직이는 무대 장치에 놓인 것과 같을 것이므로, 테이블 위에 부품을 고정할 필요는 없습니다.

혁신적인 스케일 기술에 의해 가능해진 이 단순한 기계적 구조를 에버링크 측정 소프트웨어와 결합하면 Project X 가 왜 2차원 측정의 표준인지 이해하시게 될 것입니다.

Project X 는 드디어 오래된 투영기 기술을 대체합니다. 투영기를 사용하는 것보다 더 조작이 쉽습니다. 윤곽 투영기를 사용하는 것보다 더 빠르며, 안정적이고 일관된 검사를 매번 하실 수 있습니다. Project X 는 수동 장비 혹은 완전 CNC 제어 모두에서 사용 가능합니다.  

주요특징

  • 에버링크의 조작이 쉬운 비전 측정 소프트웨어
  • 소형 사이즈의 섬세한 부품을 위한 완전히 자동화된 CNC 혹은 수동, 비접촉 검사 ​
  • 제작 작업대에 놓일 수 있는 충분히 작은 사이즈
  • 완전히 프로그램 가능한 디지털 줌, 렌즈 교체 불필요
  • 고속 광학 스캐닝 - 5000 초당 포인트 까지
  • 최상의 정밀도를 위한 강력한 모서리 감지 도구
  • 방향성 오버헤드 조명과 백라이트는 윤곽 및 표면 요소 검사 제공
  • 요소가 ​초점이 맞지 않아도 정확하게 측정 가능  

옵션

기술정보